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Description :
Cible magnétique axiale à 2 pistes pour iC-MU200 Nonius Encoder
Cette cible magnétique de haute précision a été méticuleusement conçue pour être utilisée avec les codeurs nonius iC-MU200. Elle garantit une précision et une fiabilité exceptionnelles pour une large gamme d'applications. The target features bipolar magnetization with 32 pole pairs on the master track and 31 pole pairs on the nonius track.
Fabriquée à partir d'un support métallique robuste et d'un matériau magnétique en caoutchouc vulcanisé, la cible présente un diamètre extérieur compact de 44,5 mm et est compatible avec des arbres de 25,0 mm. Sa taille compacte et sa compatibilité polyvalente en font un choix idéal pour diverses applications industrielles.

| Article NO. |
Paramètre | Commentaires | Typ. | Tolérance | Unité |
|---|---|---|---|---|---|
| A1 | Position radiale du centre de la puce | par rapport au centre axial | 18.37 | mm | |
| A2 | Distance de la surface du boîtier DFN16-5x5 | par rapport à la surface du revêtement magnétique | 0.4 | mm | |
| A3 | Hauteur totale | hauteur du matériau magnétique et du support | 1.4 | ±0.1 | mm |
| B1 | Diamètre de la piste nonius | diamètre de la piste magnétique intérieure | 32.74 | mm | |
| B2 | Diamètre de la voie principale | diamètre extérieur de la piste magnétique | 40.74 | mm | |
| B3 | Diamètre extérieur du matériau magnétique | matériau magnétique | 44.5 | ±0.2 | mm |
| B4 | Diamètre intérieur du matériau magnétique | matériau magnétique | 29 | ±0.2 | mm |
| B5 | Diamètre intérieur du support métallique | support métallique | 25 | 0.05 | mm |
| B6 | Diamètre extérieur du support métallique | support métallique | 44.5 | mm | |
| M1 | Largeur d'un seul poteau à voie nonius | 1.66 | mm | ||
| M2 | Largeur d'un seul poteau de voie principale | 2 | mm | ||
| Hc | Force coercitive | à 20°C | 170 | kA/m | |
| Br | Rémanence | à 20°C | 30 | mT | |
| T | Température de fonctionnement | -35- 120 | ℃ | ||
| AMP | Amplitude du champ magnétique | lorsque l'entrefer est de 0,4 mm | 3 | mT |
Captures d'écran du test IC/capteur
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